Oberflächen und Grenzflächen
Die Oberflächen eines Produktes sowie die Grenzflächen in Fügestellen bedürfen häufig besonderer Aufmerksamkeit bei der Entwicklung und Herstellung.
Unser Leistungspektrum umfasst u.a. die Analyse von
- Oberflächentopographien (Rauheitsmessung, Porenzahl, …)
- Oberflächenbelegungen (Restschmutzanalysen, Partikelanalysen, …)
- Beschichtungen und Schichtaufbauten (Lackierungen, Pulverbeschichtungen, ATL- und KTL-Beschichtungen, CVD- und PVD-Beschichtungen, verzinkte Oberflächen, Chromatierungen, Phosphatierungen, u.v.a.m.)
- Klebe-, Löt- und Schweißverbindungen
Zur Analyse setzen wir u.a. folgende Techniken ein
- Rasterelektronenmikroskopie mit Elektronenstrahlmikroanalytik (EDX/WDX)
- Infrarotspektroskopie (IR-Mikroskopie, Mikro-ATR)
- Gaschromatographie (GC-FTIR, GC-MS, …)
- GDOES, TOF-SIMS, XPS, AES