Bei der Analyse von Materialien mit dem Rasterelektronenmikroskop wird die Oberfläche der zu untersuchenden Probe mit einem Elektronenstrahl abgerastert. Beim Auftreffen des Elektronenstrahls werden jedoch auch einige Elektronen reflektiert bzw. zurückgestreut (engl. back scattered). Diese Elektronen können zur Anfertigung von sog. Rückstreuelektronenbildern (BSE-Bildern) verwendet werden.
Da die Anzahl der rückgestreuten Elektronen von der Zusammensetzung des Materials abhängig ist, können BSE-Aufnahmen gut dazu benutzt werden um Bereiche mit unterschiedlicher Zusammensetzung darzustellen. Häufig wird die farbliche Darstellung der Bilder so eingestellt, dass Bereiche, die aus leichten Elementen zusammengesetzt sind hell angezeigt werden. Bereiche, die aus schweren Elementen zusammengesetzt sind, erscheinen dann dunkel.